自ら欠陥を見つけ出す最新のコンピューターチップ

現代の半導体は極めて複雑化しており、今やチップ自身が製造ミスを探し出すように設計されています。トランジスタのサイズがDNAの幅に匹敵する2ナノメートルまで微細化すると、従来の検査方法では太刀打ちできません。