Les puces informatiques détectent désormais leurs propres défauts
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Les micropuces les plus avancées agissent désormais comme leurs propres inspecteurs qualité, identifiant des défauts microscopiques invisibles à l'œil nu.
Les semi-conducteurs modernes sont devenus si complexes qu'ils sont désormais conçus pour traquer leurs propres erreurs de fabrication. Les transistors ne mesurent plus que 2 nanomètres de large, soit environ l'épaisseur d'un brin d'ADN humain. À cette échelle, les méthodes d'inspection traditionnelles sont devenues inefficaces.