コンピューターチップの性能を落とす「欠損原子」の可視化に成功

技術
コンピューターチップの性能を落とす「欠損原子」の可視化に成功

科学者たちは、半導体内の欠損原子を特定する画期的な画像技術を開発しました。この「空孔」と呼ばれる現象は、コンピューターの処理速度を大きく妨げる要因となっています。

数十億個の原子の中に一つでも欠損があると、電子の流れが乱れます。これが原因で、最新のチップは過熱したり処理が遅れたりします。ミシガン大学などの研究チームは、高度な走査型トンネル顕微鏡を使用しました。これにより、微細な空隙をかつてない精度で特定できるようになりました。

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